Composants de test
Les tests matériels et logiciels peuvent être effectués sur les composants suivants :
- CPU (processeur) : ce composant de test identifie tous les processeurs installés dans un système, capture les données de configuration associées et permet de vérifier le fonctionnement correct de ces périphériques.
- Test de registre : ce test manipule tous les registres généraux à l'aide d'opérations arithmétiques. Ces opérations sont effectuées avec toutes les combinaisons des registres répertoriés. Une panne quelconque peut indiquer que le processeur (CPU) n'est pas pleinement fonctionnel et risque de donner des résultats incorrects dans les applications.
- Test de vitesse : ce test vérifie si le processeur s'exécute à la fréquence d'horloge correcte. Le test détermine la fréquence d'horloge d'exécution du processeur et la compare à la fréquence attendue. Le test prélève trois échantillons et calcule la moyenne. La fréquence réelle est calculée à l'aide du registre TSC (Time Stamp Counter) spécifique au modèle. La fréquence attendue utilisée dans la comparaison provient du SMBios. Pour réussir le test, le processeur (CPU) doit retourner une valeur réelle correspondant à la fréquence nominale fournie par le registre TSC spécifique au modèle.
- Test de l'horloge temps réel : ce test vérifie si l'horloge temps réel met à jour l'heure CMOS du système. Une panne peut entraîner des incidents pour les applications à dépendance chronologique. Pour réussir ce test, l'horloge temps réel doit avoir correctement mis à jour l'heure CMOS du système.
- Ventilateurs : ce composant de test vérifie le statut des ventilateurs du système.
- Graphiques : ce composant de test identifie tous les périphériques graphiques installés dans un système, capture les données de configuration associées, telles que les types de circuit intégré spécialisé (ASIC) et de moniteur, et permet de vérifier le fonctionnement correct de ces périphériques.
- Mémoire : ce composant de test identifie tous les modules mémoire installés dans un système, capture les données de configuration associées et permet de vérifier le fonctionnement correct de ces modules.
- Test d'adresse / Walk Test : ces tests vérifient l'intégrité des bus d'adresses reliant les processeurs aux modules de mémoire. Ils consistent à écrire des données dans toutes les adresses possibles dont un bit est défini (1) ou réinitialisé (0), dont les bits alternatifs sont définis, dont tous les bits sont hauts, dont tous les bits sont bas. L'objet de ce test est de contrôler que les lignes d'adresse sont mises à la terre, à un signal à haute tension, à d'autres lignes d'adresse ou flottantes (déconnectées). Toutefois, ces tests seuls peuvent ne pas détecter les pannes matérielles.
- Test de bruit : ce test vérifie l'intégrité de la mémoire en écrivant son inverse dans l'adresse de test en cours. Cette adresse passe du début à la fin du bloc de test en cours, en incrémentant ou décrémentant l'adresse jusqu'à ce que la totalité du bloc ait été traitée. L'objet de ce test est de détecter les problèmes de transition des bus d'adresses et de données lorsque ces lignes sont forcées d'alterner entre haut et bas aussi rapidement que possible. L'échec de ce test indique une panne de DIMM.
- Test de marche (bit par bit) : ce test est similaire à un véritable test de bits et permet de détecter les problèmes suivants : défaillances d'adresses, de transitions, de liens, de liens associés et blocages. Ces types de défaillances se produisent lorsque les cellules de mémoire d'un réseau à cellules binaires affectent le fonctionnement des cellules voisines. Dans de nombreux cas, les tests de type statique ne détectent pas ces défaillances. L'échec de ce test indique une panne de DIMM.
- Test d'adresse aléatoire/ de mémoire cache : ce test vérifie l'intégrité de la mémoire en exécutant des combinaisons aléatoires sur une fourchette de tests donnée. Les adresses utilisées pour stocker les combinaisons sont sélectionnées de manière aléatoire et normalisées pour le bloc de test courant. L'objet de ce test est de détecter les problèmes de mémoire intermittents dus à la température, aux fréquences d'horloge variables, aux tensions variables, à l'intervalle des signaux, aux défauts de fabrication, aux fréquences de rafraîchissement variables et à la dégradation. Ce test est également utile pour détecter les défaillances de mémoire non détectées par d'autres tests statiques. L'échec de ce test indique une panne de DIMM.
- Tes MEMBIST : pour les systèmes prenant en charge les DIMM totalement tamponnées et le test MEMBIST dans le BIOS, ce test vérifie l'intégrité de la mémoire en exécutant des combinaisons aléatoires sur une fourchette de tests donnée. Ce test est unique dans la mesure où il s'agit d'un test automatique intégré exécuté par le contrôleur de mémoire. Son but est de détecter les problèmes de mémoire intermittents dus à la température, aux fréquences d'horloge variables, aux tensions variables, à l'intervalle des signaux, aux défauts de fabrication, aux fréquences de rafraîchissement variables et à la dégradation. Ce test est également utile pour détecter les défaillances de mémoire non détectées par d'autres tests statiques. Quand ce test est exécuté, le système redémarre et transmet des paramètres au BIOS, qui paramètre le contrôleur de mémoire pour exécuter ce test. A la fin, le BIOS stocke les informations de succès ou d'échec dans les mémoires NVRAM et SPD des DIMM. Après un nouveau redémarrage, Insight Diagnostics autorise le composant de test mémoire à traiter les informations de succès ou d'échec. L'échec de ce test indique une panne de DIMM.
- Modem (processeur) : ce composant de test identifie tous les modems installés dans un système, capture les données de configuration associées et permet de vérifier le fonctionnement correct de ces périphériques.
- Port parallèle : ce composant de test identifie tous les périphériques parallèles installés dans le système et capture les données de configuration associées. Si le port parallèle est correctement configuré et que les données sont à la disposition du système d'exploitation, les ports DMA, IRQ et E/S associés sont signalés. Ce composant de test permet également de vérifier le fonctionnement correct de ces périphériques.
- Bus PCI : ce composant de test identifie tous les périphériques PCI installés dans un système et permet de vérifier le fonctionnement correct d'E/S PCI des périphériques.
- Rack - ce composant de test recueille et affiche des informations sur les composants de l'infrastructure en lame, tels que le rack et le châssis installé. Ces informations incluent en autres le type de châssis, l'ID produit, l'ID fabrication, le numéro de série, la température de différentes zones du rack, le statut des ventilateurs installés dans le système, les versions de microprogramme du sous-système. Le composant de test du rack fournit également plusieurs tests pour vérifier les versions de sous-système du rack, les périphériques EPROM et les ventilateurs installés.
- RIB : ce composant de test identifie toutes les cartes Remote Insight installées dans le système et capture les données de configuration associées. Le test de ces cartes n'est exécuté que si des pilotes sont installés au cours de la détection.
- Port série (processeur) : ce composant de test identifie tous les périphériques série installés dans un système, capture les données de configuration associées et permet de vérifier le fonctionnement correct de ces périphériques.
- Stockage : ce composant de test identifie les périphériques de stockage connectés à un système via IDE, USB, SCSI ou un réseau Fibre Channel. Les périphériques suivants sont pris en charge :
- disques durs IDE
- lecteurs de disquettes
- lecteurs de disquettes USB
- CD-ROM USB
- clé de mémoire USB
- lecteurs de disque SCSI
- lecteurs de bande SCSI
- disques durs SATA
- disques durs SAS
- contrôleurs SCSI
- contrôleurs RAID
- contrôleur SATA
- contrôleur SAS
- cartes de fond de panier SCSI intelligentes
- boîtiers de stockage externes intelligents
- ...etc
Les contrôleurs peuvent être connectés à l'hôte via un port PCI, I2C ou série. Le composant capture également les données de configuration associées et permet de vérifier le fonctionnement correct de ces périphériques.
Test automatique des lecteurs SCSI et IDE : les tests automatiques hors ligne sont en fait exécutés par le lecteur lui-même à l'aide des capacités de test intégrées au microprogramme du lecteur. Le test automatique hors ligne court effectue des tests limités et le contrôle de seuil, tandis que le test long exécute également une analyse de surface complète.
- Gestion système : ce composant de test identifie les périphériques de gestion du système LED, I2C, LCD, CMOS et ASM installés dans un système et permet de vérifier le fonctionnement correct de ces périphériques.
- USB : ce composant de test identifie tous les périphériques USB installés dans un système, capture les données de configuration associées et permet de vérifier le fonctionnement correct de ces périphériques.
Une liste des tests disponibles pour un composant de test et une liste des codes d'erreur sont accessibles via les options de menu Composants de test et Codes d'erreur sur la barre de menus de l'onglet Aide.