Componenti di test
È possibile effettuare test hardware e software sui seguenti componenti:
- CPU - Questo componente di test identifica tutti i processori installati in un sistema, acquisisce le eventuali informazioni di configurazione associate e permette di verificare il corretto funzionamento di tali dispositivi.
- Test del registro - Questo test manipola tutti i registri generali mediante operazioni aritmetiche, effettuate con tutte le combinazioni dei registri elencati. Un eventuale errore può indicare un malfunzionamento del processore (CPU), responsabile di risultati non corretti nelle applicazioni.
- Test di velocità - Questo test verifica che la CPU giri alla velocità di clock corretta. Il test rileva la velocità di clock effettiva della CPU e raffronta il dato con la velocità prevista. Vengono presi in esame tre campioni, in base ai quali viene calcolata la media. La velocità effettiva viene calcolata utilizzando il registro TSC (Time Stamp Counter) specifico del modello. La velocità prevista utilizzata per il confronto viene letta in SMBios. Affinché il test venga superato, il processore (CPU) deve restituire un valore di velocità effettiva corrispondente alla velocità nominale del processore (CPU) indicata nel registro TSC specifico del modello.
- Test del real-time clock - Questo test verifica l'aggiornamento dell'ora CMOS del sistema da parte del real-time clock. Un eventuale errore può comportare errori nelle applicazioni temporizzate. Affinché il test venga superato, l'ora CMOS del sistema deve essere correttamente aggiornata dal real-time clock.
- Ventole - Questo componente di test controlla lo stato delle ventole del sistema.
- Grafica - Questo componente di test identifica tutti i dispositivi grafici installati in un sistema, acquisisce le eventuali informazioni di configurazione associate, come i tipi di monitor e ASIC, e permette di verificare il corretto funzionamento di tali dispositivi.
- Memoria - Questo componente di test identifica tutti i moduli di memoria installati in un sistema, acquisisce le eventuali informazioni di configurazione associate e permette di verificare il corretto funzionamento di tali moduli.
- Test di indirizzo e walk test - Questi test verificano l'integrità dei bus di indirizzo che collegano i processori ai moduli di memoria. Ciò avviene attraverso la scrittura di dati su tutti gli indirizzi possibili che abbiano un solo bit impostato (1) o resettato (0), bit alternati impostati, tutti i bit alti e tutti i bit bassi. Scopo di questo test è la ricerca di indirizzi in cortocircuito verso terra, verso un segnale ad alta tensione, verso altre righe di indirizzo o disconnessi. Tuttavia, questi test da soli possono non indicare un errore grave.
- Test di rumore - Questo test verifica l'integrità della memoria scrivendo l'inverso dell'indirizzo di test sull'indirizzo di test corrente. L'indirizzo di test corrente alterna tra l'inizio e la fine del blocco di test corrente, aumentando o diminuendo il valore fino a quando non viene completato l'accesso all'intero blocco di test. Scopo del test è la ricerca di problemi di transizione del bus dati e degli indirizzi quando queste righe vengono forzate verso il basso e verso l'alto il più rapidamente possibile. Un errore in questo test indica un errore della DIMM.
- March test - Questo test è simile a un vero test bit per bit e consente di rilevare errori di indirizzo, di tipo permanente (stuck-at), di transizione, di accoppiamento e di accoppiamento collegato. Gli errori di questo tipo si verificano quando le celle di memoria all'interno di un array di celle bit influiscono sul funzionamento delle celle di memoria vicine. In molti casi, i test di tipo statico non sono in grado di rilevare questi errori. Un errore in questo test indica un errore della DIMM.
- Test cache / indirizzo casuale - Questo test verifica l'integrità della memoria eseguendo schemi casuali su un determinato intervallo di test. Gli indirizzi utilizzati per memorizzare gli schemi vengono selezionati in modo casuale e normalizzati perché possano rientrare nel blocco di test corrente. Scopo del test è rilevare problemi di memoria intermittenti provocati da fattori quali temperatura, velocità di clock variabili, variazioni di tensione, temporizzazione del segnale, difetti di fabbricazione, frequenze di aggiornamento variabili e deterioramento. Il test è utile anche per rilevare errori di memoria non rilevabili con altri test statici. Un errore in questo test indica un errore della DIMM.
- Test MEMBIST - Per i sistemi che supportano DIMM con buffer e il test MEMBIST nel BIOS, questo test verifica l'integrità della memoria eseguendo schemi casuali su un determinato intervallo di test. Si tratta di un test di autodiagnosi integrato eseguito dal controller di memoria. Scopo del test è rilevare problemi di memoria intermittenti provocati da fattori quali temperatura, velocità di clock variabili, variazioni di tensione, temporizzazione del segnale, difetti di fabbricazione, frequenze di aggiornamento variabili e deterioramento. Il test è utile anche per rilevare errori di memoria non rilevabili con altri test statici. Quando si esegue questo test, il sistema si riavvia e passa i parametri al BIOS, che imposta il controller di memoria per l'esecuzione del test. Al termine, il BIOS registra le informazioni sul superamento o meno del test nella memoria NVRAM e SPD delle DIMM. Dopo un nuovo riavvio del sistema, Insight Diagnostics consente al componente di test della memoria di elaborare le informazioni acquisite. Un errore in questo test indica un errore della DIMM.
- Modem - Questo componente di test identifica tutti i modem installati in un sistema, acquisisce le eventuali informazioni di configurazione associate e permette di verificare il corretto funzionamento di tali dispositivi.
- Porta parallela - Questo componente di test identifica tutti i dispositivi paralleli installati in un sistema e acquisisce le eventuali informazioni di configurazione associate. Se la porta parallela è configurata in modo corretto e le informazioni sono a disposizione del sistema operativo, vengono rilevate le porte DMA, IRQ e I/O associate. Questo componente di test permette, inoltre, di verificare il corretto funzionamento di tali dispositivi.
- Bus PCI - Questo componente di test identifica tutti i dispositivi PCI installati in un sistema e permette di verificare il corretto funzionamento I/O PCI di tali dispositivi.
- Rack - Questo componente di test raccoglie e visualizza le informazioni sui componenti dell'infrastruttura blade, quali rack e chassis installati. Tali informazioni comprendono: tipo di chassis, ID prodotto, ID produttore, numero di serie, temperatura delle varie zone del rack, stato delle ventole installate nel sistema, revisioni del firmware dei sottosistemi e altro ancora. Il componente di test del rack contiene anche test multipli per la verifica delle versioni dei sottosistemi rack, dei dispositivi EPROM e delle ventole installate.
- Schede Remote Insight - Questo componente di test identifica le schede Remote Insight installate in un sistema e acquisisce le eventuali informazioni di configurazione associate. I test delle schede Remote Insight possono essere eseguiti solo se i driver vengono installati durante il rilevamento.
- Porta seriale - Questo componente di test identifica tutti i dispositivi seriali installati in un sistema, acquisisce le eventuali informazioni di configurazione associate e permette di verificare il corretto funzionamento di tali dispositivi.
- Memorizzazione - Questo componente di test identifica i dispositivi di memorizzazione collegati ad un sistema tramite connessioni IDE, USB, SCSI o rete Fibre Channel. Di seguito è riportato l'elenco dei dispositivi supportati:
- Unità disco rigido IDE
- Unità disco floppy
- Unità floppy USB
- CD-ROM USB
- Drivekey USB
- Unità disco SCSI
- Unità a nastro SCSI
- Dischi rigidi SATA
- Dischi rigidi SAS
- Controller SCSI
- Controller RAID
- Controller SATA
- Controller SAS
- Backplane SCSI intelligenti
- Storage box esterni intelligenti
- ... e altri ancora.
I controller possono essere collegati all'host tramite PCI, I2C o porta seriale. Il componente acquisisce anche le eventuali informazioni di configurazione associate e permette di verificare il corretto funzionamento di tali dispositivi.
Test di autodiagnosi unità SCSI e IDE: i test di autodiagnosi offline vengono eseguiti dall'unità stessa utilizzando le funzionalità di test integrate nel firmware. Il test di autodiagnosi offline breve effettua prove e controlli di soglia limitati, mentre il test di autodiagnosi offline esteso effettua anche un'analisi completa della superficie.
- Gestione del sistema - Questo componente di test identifica tutti i dispositivi di gestione del sistema ASM, CMOS, LCD, I2C e Hotplug LED installati in un sistema e permette di verificare il corretto funzionamento di tali dispositivi.
- USB - Questo componente di test identifica tutti i dispositivi USB installati in un sistema, acquisisce le eventuali informazioni di configurazione associate e permette di verificare il corretto funzionamento di tali dispositivi.
Per visualizzare un elenco dei test disponibili per ciascun componente di test e un elenco dei codici di errore, selezionare Componente test e Codici di errori nella barra dei menu della scheda Guida.