Testkomponenten
Für die folgenden Komponenten können Hardware- und Software-Tests durchgeführt werden:
- CPU – Diese Testkomponente ermittelt alle im System installierten Prozessoren, erfasst alle damit verbundenen Konfigurationsinformationen und überprüft den ordnungsgemäßen Betrieb dieser Geräte.
- Register Test (Registertest) – Bei diesem Test werden alle allgemeinen Register durch arithmetische Operationen manipuliert. Die arithmetischen Operationen erfolgen mit allen Kombinationen der aufgelisteten Register. Jeder Fehler kann darauf hinweisen, dass der Prozessor (CPU) nicht voll funktionsfähig ist und möglicherweise falsche Ergebnisse in den Anwendungen ausgibt.
- Speed Test (Geschwindigkeitstest) – Bei diesem Test wird ermittelt, ob die CPU mit der richtigen Taktgeschwindigkeit läuft. Dazu wird die tatsächliche Taktgeschwindigkeit der CPU ermittelt und mit der Soll-Geschwindigkeit verglichen. Es werden drei Werte gemessen und der Durchschnitt daraus errechnet. Die tatsächliche Geschwindigkeit wird mithilfe des Time Stamp Counters des Model Specific Registers (MSR) berechnet. Die Soll-Geschwindigkeit, die als Grundlage für den Vergleich dient, wird aus dem SMBios abgelesen. Der Test gilt als bestanden, wenn der Prozessor (CPU) eine Ist-Geschwindigkeit aufweist, die mit der Soll-Geschwindigkeit im MSR-Time Stamp Counter übereinstimmt.
- Real Time Clock Test (Echtzeituhr-Test) – Bei diesem Test wird sichergestellt, dass die Echtzeituhr die CMOS-Zeit des Systems aktualisiert. Jeder Fehler könnte zu Fehlern bei zeitabhängigen Anwendungen führen. Der Test gilt als bestanden, wenn die Echtzeituhr die CMOS-Zeit des Systems korrekt aktualisiert hat.
- Fans (Lüfter) – Bei dieser Testkomponente wird der Status der Systemlüfter überprüft.
- Graphics (Grafik) – Bei dieser Testkomponente werden alle im System installierten Grafikgeräte ermittelt, alle damit verbundenen Konfigurationsinformationen wie z. B. ASIC- und Monitortypen erfasst und der ordnungsgemäße Betrieb dieser Geräte überprüft.
- Memory (Arbeitsspeicher) – Bei dieser Testkomponente werden alle im System installierten Speichermodule ermittelt, alle damit verbundenen Konfigurationsinformationen erfasst und der ordnungsgemäße Betrieb dieser Module überprüft.
- Address Test/Walk Test (Adressentest/Gehtest) – Bei diesen Tests wird die Integrität der Adressbusse überprüft, welche die Prozessoren mit den Speichermodulen verbinden. Dazu werden Daten in alle möglichen Adressen geschrieben, für die entweder nur ein Bit gesetzt (1) oder rückgesetzt (0) ist, für die abwechselnd Bits gesetzt werden oder für die alle Bits gesetzt oder rückgesetzt sind. Zweck dieses Tests ist es, auf Adressleitungen zu prüfen, die entweder gegen Masse angeschlossen sind, einen Schluss gegen die Versorgungsspannung haben, untereinander kurzgeschlossen sind oder unterbrochen (nicht angeschlossen) sind. Dieser Test allein kann jedoch unter Umständen nicht alle Hardware-Fehler abdecken.
- Noise Test (Rauschtest) – Bei diesem Test wird die Speicherintegrität überprüft, indem der Inhalt der aktuellen Testadresse invertiert in die aktuelle Testadresse geschrieben wird. Die aktuelle Testadresse wechselt zwischen Anfang und Ende des aktuellen Testblocks hin und her. Die Adresse wird erhöht oder reduziert, bis auf den gesamten Testblock zugegriffen wurde. Zweck dieses Tests ist es, nach Problemen auf den Adress- oder Datenbussen aufgrund schnellstmöglichen Signalwechsels zwischen High und Low zu suchen. Ein Fehler in diesem Test weist auf ein fehlerhaftes DIMM-Modul hin.
- March Test (Marschtest) – Dieser Test ist mit dem Walk Test vergleichbar und kann folgende Fehler ermitteln: Adressfehler, statische Fehler, Umladungsfehler, Kopplungsfehler und verknüpfte Kopplungsfehler. Diese Fehler treten auf, wenn Speicherzellen in einem Speicherzellenfeld den Betrieb nahe gelegener Speicherzellen beeinflussen. In vielen Fällen können diese Fehler mit statischen Tests nicht ermittelt werden. Ein Fehler in diesem Test weist auf ein fehlerhaftes DIMM-Modul hin.
- Random Address/Cache Test (Zufallsadresse/Cache-Test) – Bei diesem Test wird die Speicherintegrität durch Ausführen zufälliger Muster in einem bestimmten Testbereich überprüft. Die Adressen zum Speichern der Muster werden zufällig ausgewählt und normalisiert, sodass sie in den aktuellen Testblock passen. Zweck dieses Tests ist es, zufällig auftretende Speicherprobleme zu ermitteln, die durch Temperatur, variable Taktgeschwindigkeiten, schwankende Spannungen, Signallaufzeiten, Herstellungsfehler, schwankende Aktualisierungsraten und Alterung entstehen. Der Test eignet sich ebenfalls zur Ermittlung von Speicherfehlern, die von anderen statischen Tests möglicherweise nicht erkannt werden können. Ein Fehler in diesem Test weist auf ein fehlerhaftes DIMM-Modul hin.
- MemBIST Test (Speicherselbsttest) – Bei Systemen, die Fully Buffered DIMMs und MemBIST-Tests im BIOS unterstützen, kann mit diesem Test die Speicherintegrität überprüft werden, indem in einem bestimmten Testbereich zufällige Muster ausgeführt werden. Dieser Test ist insofern einzigartig, als dass vom Speichercontroller ein Built-In Self-Test (BIST, Speicherselbsttest) durchgeführt wird. Zweck dieses Tests ist es, zufällig auftretende Speicherprobleme zu ermitteln, die durch Temperatur, variable Taktgeschwindigkeiten, schwankende Spannungen, Signallaufzeiten, Herstellungsfehler, schwankende Aktualisierungsraten und Alterung entstehen. Der Test eignet sich ebenfalls zur Ermittlung von Speicherfehlern, die von anderen statischen Tests möglicherweise nicht erkannt werden können. Wenn dieser Test ausgeführt wird, wird das System neu gestartet und es werden Parameter an das BIOS übertragen, das wiederum den Speichercontroller zur Ausführung dieses Tests veranlasst. Nach Beenden des Tests speichert das BIOS jedes Ergebnis (Bestanden/Fehlgeschlagen) im NVRAM- und SPD-Speicher der DIMMs. Nach dem Neustart erlaubt Insight Diagnostics der Speichertestkomponente die Verarbeitung der Testergebnisse. Ein Fehler in diesem Test weist auf ein fehlerhaftes DIMM-Modul hin.
- Modem – Bei diesem Test werden alle im System installierten Modemgeräte ermittelt, alle damit verbundenen Konfigurationsinformationen erfasst und der ordnungsgemäße Betrieb dieser Geräte überprüft.
- Parellel Port (Parallele Schnittstelle) – Bei diesem Test werden alle im System installierten parallelen Geräte ermittelt und alle damit verbundenen Konfigurationsinformationen erfasst. Wenn die parallele Schnittstelle korrekt konfiguriert ist und die Informationen für das Betriebssystem verfügbar sind, werden die verbundenen DMA-, IRQ- und E/A-Schnittstellen erfasst. Mit dieser Testkomponente kann auch der korrekte Betrieb dieser Geräte überprüft werden.
- PCI Bus – Bei dieser Testkomponente werden alle im System installierten PCI-Geräte ermittelt und es kann der korrekte PCI-E/A-Betrieb der Geräte überprüft werden.
- Rack – Bei dieser Testkomponente werden Informationen zu den Komponenten der Blade-Infrastruktur wie Rack und Chassis gesammelt und angezeigt. Zu diesen Informationen zählen Chassis-Typ, Produkt-ID, Hersteller-ID, Seriennummer, Temperatur der verschiedenen Zonen im Rack, Status der installierten Lüfter im System, Firmware-Revisionen des Teilsystems etc. Die Rack-Test-Komponente enthält außerdem mehrere Tests zur Überprüfung von Teilsystemversionen des Racks, EPROM-Geräten und installierten Lüftern.
- RIB – Bei dieser Testkomponente werden alle im System installierten Remote Insight Boards ermittelt und alle damit verbundenen Konfigurationsinformationen erfasst. Die Überprüfung der Remote Insight Boards wird nur ausgeführt, wenn bei der Erkennung Treiber installiert sind.
- Serial Port (Serielle Schnittstelle) – Bei dieser Testkomponente werden alle im System installierten seriellen Geräte ermittelt, alle damit verbundenen Konfigurationsinformationen erfasst und der ordnungsgemäße Betrieb dieser Geräte überprüft.
- Storage (Speicher) – Bei dieser Testkomponente werden Speichergeräte ermittelt, die über IDE, USB, SCSI oder ein Fibre Channel-Netzwerk an das System angeschlossen sind. Zu den unterstützten Geräten zählen:
- IDE-Festplattenlaufwerke
- Diskettenlaufwerke
- USB-Diskettenlaufwerk
- USB-CD-ROM
- USB-Drivekey
- SCSI-Festplattenlaufwerke
- SCSI-Bandlaufwerke
- SATA-Festplatten
- SAS-Festplatten
- SCSI-Controller
- RAID-Controller
- SATA-Controller
- SAS-Controller
- Intelligente SCSI-Backplanes
- Intelligente externe Speichergeräte
- ...etc.
Controller können über PCI, I2C oder eine serielle Schnittstelle an den Host angeschlossen werden. Die Komponente erfasst außerdem alle verbundenen Konfigurationsinformationen und kann den korrekten Betrieb dieser Geräte überprüfen.
SCSI- und IDE-Festplattenselbsttest: Die Offline-Selbsttests werden vom Laufwerk selbst mit den Funktionen der Laufwerks-Firmware durchgeführt. Der kurze Offline-Selbsttest führt begrenzte Tests und Schwellenwertprüfungen durch. Der erweiterte Offline-Selbsttest hingegen führt eine umfassende Oberflächenanalyse durch.
- System Management – Bei diesem Test werden die auf einem System installierten Hotplug-LED, -I2C, -LCD, -CMOS und -ASM-Systemverwaltungsgeräte ermittelt und der korrekte Betrieb dieser Geräte überprüft.
- USB – Bei diesem Test werden alle im System installierten USB-Geräte ermittelt, alle damit verbundenen Konfigurationsinformationen erfasst und der ordnungsgemäße Betrieb dieser Geräte überprüft.
Eine Liste der für jede Testkomponente verfügbaren Tests sowie eine Liste mit Fehlercodes finden Sie, wenn Sie in der Menüleiste die Registerkarte „Hilfe“ auswählen und „Komponente testen“ oder „Fehlercodes“ auswählen.